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飞行时间二次离子质谱仪 / PHI nano TOF 3+/TOF-SIMS

2025-11-20

飞行时间二次离子质谱仪 / PHI nano TOF 3+/TOF-SIMS

PHI nanoTOF3+是一款先进的TOF-SIMS仪器，配备TRIFT质量分析器，具备高空间分辨率（高达50nm）和高质量分辨率，支持MS/MS功能，适合有机大分子结构分析。它拥有无人值守自动化多样品分析功能，能自动调整分析参数以适应不同类型的样品，包括绝缘材料。该设备还配备了自动荷电中和技术，确保准确的绝缘样品分析。此外，它具有FIB功能，可进行截面加工和分析，以及选配的氩团簇离子源和Cs源，满足多种材料的分析需求。

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