少子寿命测试仪µPCD/MDP (MDPpro 850+)

用于单晶硅锭、硅砖和硅晶圆片的生产和质量监控。用于HJT、HIT、TOPcon、双面PERC、PERC+太阳能电池、钙钛矿等中的硅材料。

MDPpro 850+

用于单晶硅锭、硅砖和硅晶圆片的生产和质量监控。用于HJT、HIT、TOPcon、双面PERC、PERC+太阳能电池、钙钛矿等中的硅材料。

特点 ：        

寿命范围：20 ns至100 ms（样品电阻率 > 0.3 Ohm cm）   

 SEMI标准：PV9-1110        

 测试速度：线扫描 < 30 s；完整的面扫秒 < 5 min        

 同时测量：寿命μPCD/MDP（QSS）和电阻率

 自动几何形状识别： G12、M10晶砖和晶圆片